ELES S.p.A., PMI innovativa quotata su AIM Italia e fornitore mondiale di soluzioni per il test dei dispositivi a semiconduttore (IC Integrated Circuits) con applicazioni Safety e Mission Critical, comunica di aver consolidato ulteriormente la relazione con un importante Cliente Americano leader mondiale nella produzione di Microcontrollori, ricevendo un ordine per la fornitura di Test Application a Strip Level per Microcontrollori di più elevata complessità. Tale ordine segue quello relativo alla qualifica della soluzione “STRIP TDBI (Test During Burn-In)” (CS del 30 luglio 2019).
Eles ha sviluppato una soluzione innovativa per il test dei Microcontrollori (MCU) a STRIP LEVEL, prima della singolarizzazione di ogni dispositivo nel suo rispettivo package, ossia quando i chip sono ancora tutti collegati sulla strip. A questo livello, sono necessari dispositivi con una dotazione di testabilità DFT & BIST adeguata, oltre che socket speciali e soprattutto sistemi di test in grado di pilotare tanti dispositivi in parallelo (c.d. MASSIVELY PARALLEL TEST).